Sekundär-Ione-Massen-Spektroskopie
Prinzip
[Beoarbaidje | beoarbaidje Wältext]Sekundär-Ione-Massen-Spektrometrie (SIMS) is ne Methode tou dät Analysierjen fon Uurflächen. Deertou wäd ju Probe in Vakuum bestroald mäd Ione (litje leedene Deele). Deertruch wäide dan Ione fon ju Probe-Uurfläche loossloain, wierfon dan ju Masse wain wäd. Dät Weegen fon do sonaamde sekundäre Ione geböärt in n Massen-Spektrometer, so dät ju Atommasse fääststoald wäide kon un me weet, uum wäkker Element sik dät honnelt. Ju Methode is gans geföilich un ju Geföilegaid kon 10-16 bit 10-12 Atome/cm3 bedreege, dät is minner as n millionste Prozent! Deermäd is ju Methode uum ne Million Moal geföiliger as AES.
Resultoate
[Beoarbaidje | beoarbaidje Wältext]Do Resultoate kricht me as Massenspektroa, hier t.B. foar Nikkel (buppeste Bielde). Deerbie kon me do Isotope apaat sjo, hier also ap Atommassen 58, 60, 61, 62 un 64. Gewöönelk stoant dät Ferhältnis twiske do Isotope fääst, man in wäkke Falle kon dät uurs weese, t.B. troch nukleäre Prozesse. Dät kon me dan an dät SIMS-Spektrum sjo.
Bie dät uur Spektrum honnelt sik dät uum Phosphor. Dät häd man aan Isotope (Massentaal 31), man apfaalend sunt litje Spitsen ap 62 un 93. Deer honnelt sik dät uum Clustere (Klüüten) fon two bzw. tjo Atome mäd oankelde Leedenge. Dät kon ouhongje fon ju Bestroalengswiese. Nu is dät Läipe, dät ju Spitse ap 62 touhoope faalt mäd n Isotope fon Nikkel. Ap ju Wiese konnen Spitsen fon ferskeedene Elemente sik eenuur stööre un dät is n Ätterdeel fon SIMS.
Ätterdeel
[Beoarbaidje | beoarbaidje Wältext]N fuul gratteren Ätterdeel is, dät bloot do Ione (leedene Deele) meeten wäide un dät nit goud fäästtoustaalen is, wo n grooten Andeel do fon do ganse loossloaine Deele uutmoakje. Bruukt me toun Bestroaljen t.B. dät Edelgas Argon, dan wäide neen Ferbiendengen foarmd un äntstounde man gans min sekundäre Ione. Me kon dät ferbeeterje truch n Bitje Suurstof in dät Vakuum oun tou läiten. Fuul geföiliger wäd ju Methode truch ju Probe mäd Ione fon n uur Gas tou bestroaljen. Uk honget fuul deerfon ou, of dät Materioal fon ju Probe sälwen al ne Touhoopestaalenge, t.B. n Oxyd is. Truch aal disse Uurseeken kon ju Geföilegaid fon SIMS uur n Faktor duusend skiele un mout oafte mäd Referenzproben oarbaided wäide uum noch n Bitjen tou wieten, wät me häd.